第二讲　失效分析技术和设备
1. 失效分析基本程序
a.基本方法与程序
b.失效信息调查与方案设计
c.非破坏性分析的基本路径
d.半破坏性分析的基本路径
e.破坏性分析的基本路径
f.报告编制
2. 非破坏性分析的基本路径
a.外观检查
b.电参数测试分析与模拟应力试验
c.检漏与PI好
d.X光与扫描声学分析
3. 半破坏性分析的基本路径
a.开封技术与可动微粒收集 b.内部气氛检测(与前项有冲突)
c.不加电的内部检查(光学.SEM与EDS.微区成分)
d.加电的内部检查(微探针.红外热像.EMMI光发射.电压衬度像.束感生电流像.电子束探针).
4. 破坏性分析的基本路径
a.去除钝化层技术(湿法.干法)
b.剖切面技术及分析(切片)
5. 分析技术与分析设备清单

第三讲　失效分析典型案例
1. 系统设计缺陷引起的失效
2. CMOS IC 闩锁效应失效
3. 静电损伤失效
4. 过电损伤失效
5. 热应力失效
6. 机械应力损伤失效
7. 电腐蚀失效
8. 污染失效
9. 热结构缺陷引起过热失效
10.{词语被屏蔽}缺陷引起的失效
11.寿命失效

讲师-李少平老师

李少平老师：高级工程师，1984年毕业于成都电讯工程学院（现中国电子科技大学）半导体器件专业，毕业后一直在中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）可靠性研究分析中心从电子产品可靠性分析、研究工作。长期从事对电子企业的可靠性增长和产品失效分析工作，具有丰富的失效分析经验，并积累了大量的经典分析案例，是中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）可靠性研究分析中心资深的失效分析专家。

主要培训的企业有：美的失效分析实验室建设技术咨询和失效分析技术培训，海尔检测中心的技术咨询和失效分析技术培训，广东核电进行电子元器件老化技术，继电器老化管理，板件老化管理培训，中兴通讯的失效分析技术培训，富士康失效分析技术现场研讨，中国赛宝实验室元器件可靠性研究分析中培训学员的实习指导，以及失效分析专题公开培训。先后参与《失效分析经典案例100例》和《电子元器件失效技术》的编写。

中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）是可靠性专业的综合研究所，属下的可靠性研究分析中心专门从可靠性物理的研究和分析工作，面向军、民企业提供可靠性支撑技术，直接的服务主要是包括失效分析的可靠性技术。可靠性物理及其应用技术国家重点实验室的依托实体就是信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心。